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HfO2 열처리 온도 및 두께에 따른 RRAM의 전기적 특성
소개글
Publish: Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering Volume 18, Issue3, p663~669, 31 March 2014
태그
저항성 메모리
열처리 온도
HfO2 산화층 두께
저작시기
2016-08월
등록일
2016-08-09
파일형식
pdf
페이지
7페이지
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